SXJS-IV介損測試儀*

描述：SXJS-IV介損測試儀*，是一種測量介質損耗（tgδ）和電容容量（Cx）的儀器，用于工頻高壓下，測量各種絕緣材料、絕緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設備的介質損耗（tgδ）和電容容量（Cx）。

產品型號：
廠商性質：生產廠家
更新時間：2024-05-27
訪問量：1325

產品咨詢聯系我們

產品介紹/ PRODUCT PRESENTATION

SXJS-IV介損測試儀*，是一種測量介質損耗（tgδ）和電容容量（Cx）的儀器，用于工頻高壓下，測量各種絕緣材料、絕緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設備的介質損耗（tgδ）和電容容量（Cx）。

技術指標：

1、環境：-5℃～40℃（液晶屏應避免長時間日照）
2、相對濕度：30%～70%
3、供電電源：電壓：220V±10%，頻率50±1Hz
4、外形尺寸：長*寬*高=500mm*300mm*400mm
5、重量：28kg
6、輸出功率：1.5KVA
7、顯示分辨率：3位、4位（內部全是6位）
8、測試方法：正接法、反接法、外接試驗電壓法
9、測量范圍：內接試驗電壓：≤60000PF（10KV電壓大于30000PF）
外接試驗電壓：由外接試驗變壓器輸出功率而定
10、基本測量誤差：
介質損耗（tgδ）：1%±0.04%
電容容量（Cx）：1%±1pF

工作原理：
標準回路由內置高壓穩定度標準電容器與標準電阻網絡組成，由計算機實時采集標準回路電流與測試回路的電流幅值及其相位差，并算出被測試品電容容值（CX）和介質損耗（tgδ）。
數據采集電路全部采用高壓穩定器件，采集板和采集計算機被鐵盒*浮空屏蔽，儀器外殼接地屏蔽；另外使用了光導數據、浮空地、大面積地、單點地、數字濾波等抗干擾技術，加之計算機對數百個電網周期的數據進行處理，使測量結果穩定、精確、可靠。
儀器高壓器的高壓側和測量線路都是浮地的，用戶可根據不同的測量對象和測量需要，靈活地采用多種接地方式。如采用“正接線法”進行測量時，可將“E”點接地；而當采用“反接法”進行測量時，可將“UH”點接地，而將E點浮空。
圖中除測試品CX外，其余為本儀器。細線框內部分對儀器外殼隨15KV工頻高壓5分鐘，額定耐壓10KV。儀器內附標準電容CN，名義值為50PF，tgδ≤0.0001，耐壓10KV。高壓變壓器，額定輸出功率為1.5KVA。
“E”點為儀器內`屏蔽與測量電纜的屏蔽層相連，不是大地，與儀器外殼也不連通！

儀器成套性：
（1）SXJS-IV介損測試儀* 1臺
（2）測試線纜 1套
（3）保險絲（15A） 4只
(0.5A) 2只
（4）電源線 1根
（5）使用說明書 1份
(6) 產品合格證 1份

留言詢價/ MESSAGE INQUIRY

留言框

產品：
您的單位：
您的姓名：
聯系電話：
常用郵箱：
省份：
詳細地址：
補充說明：
驗證碼：

請輸入計算結果（填寫阿拉伯數字），如：三加四=7

上一篇：SXJS-IV智能化介質損耗測試儀*
下一篇：YD-5806抗干擾異頻介質損耗測試儀價格

SXJS-IV介損測試儀*

留言框

產品：

您的單位：

您的姓名：

聯系電話：

常用郵箱：

省份：

詳細地址：

補充說明：

驗證碼：